دکتری: مشخصه‌یابی پیشرفته عیوب برای تصویربرداری فروسرخ
بررسی عیوب ساختاری در آشکارسازهای فروسرخ سردشونده با استفاده از تکنیک‌های پیشرفته مشخصه‌یابی در مقیاس نانو.
مناسب برای:مناسب برای فارغ‌اتحصیلان علم مواد یا فیزیک با علاقه به تحلیل ساختاری در مقیاس نانو و ساخت نیمه‌هادی‌ها.
مرور کلی
این موقعیت دکتری در دانشگاه گرنوبل آلپ بر مشخصه‌یابی پیشرفته عیوب در آشکارسازهای فروسرخ سردشونده که طی فرآیندهای ساخت ایجاد می‌شوند، تمرکز دارد. نامزد موفق که در آزمایشگاه فروسرخ CEA-LETI-MINATEC فعالیت می‌کند، از تکنیک‌های پیشرفته‌ای مانند میکروپراش لائو و نانوتوموگرافی FIB-SEM استفاده خواهد کرد. هدف این پروژه درک، کنترل و پیوند دادن منشأ این عیوب به منظور بهبود قابلیت اعتماد نسل بعدی حسگرهای فروسرخ است. دانشجوی دکتری به طور فعال در توسعه نمونه‌ها در اتاق‌های تمیز مشارکت کرده و با تیم‌های مشخصه‌یابی الکترواپتیکال همکاری خواهد کرد.
نحوهٔ درخواست
برای دیدن امتیاز تطابق شخصی، نیازمندی‌ها، جزئیات بودجه و نحوهٔ درخواست — به انگلیسی یا فارسی — حساب کاربری رایگان بساز.