دکتری در زمینه حالت‌های خرابی و مکانیزم‌های آن در کلیدهای فرکانس رادیویی مبتنی بر PCM
بررسی قابلیت اعتماد و مکانیزم‌های خرابی کلیدهای فرکانس رادیویی مبتنی بر مواد تغییر فاز برای یکپارچه‌سازی پیشرفته CMOS.
مناسب برای:مناسب برای مهندسان فارغ‌التحصیل با پس‌زمینه در علم مواد، الکترونیک یا فیزیک نیمه‌هادی که به مشخصه‌یابی قابلیت اعتماد علاقه دارند.
مرور کلی
این موقعیت دکتری در آزمایشگاه مشخصه‌یابی الکتریکی و قابلیت اعتماد در LETI میزبانی می‌شود و بر کلیدهای فرکانس رادیویی ساخته شده با استفاده از مواد تغییر فاز (PCM) تمرکز دارد. نامزد منتخب، حالت‌های خرابی مانند شکستگی هیتر، تفکیک مواد و تشکیل حفره را در شرایط مختلف عملیاتی بررسی خواهد کرد. این پژوهش شامل انجام مشخصه‌یابی‌های الکتریکی و فیزیکی در کنار پیاده‌سازی روش‌های پیری شتاب‌یافته است. نتیجه مورد انتظار، درک جامع از مکانیزم‌های فیزیکی پشت تخریب و قابلیت اعتماد کلیدهای PCM است.
نحوهٔ درخواست
برای دیدن امتیاز تطابق شخصی، نیازمندی‌ها، جزئیات بودجه و نحوهٔ درخواست — به انگلیسی یا فارسی — حساب کاربری رایگان بساز.